一、葉面積指數測量儀介紹

葉面積指數測量儀是用于各種高度植物冠層研究的儀器，可以無損測量葉面積指數、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數、葉面積密度的方位分布、冠層內外的光合有效輻射（PAR）等參數。

二、葉面積指數測量儀應用領域

葉面積指數測量儀廣泛應用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農林業(yè)科研工作。

三、葉面積指數測量儀主要作用

1、無損測量：快速無損傷獲取植物冠層圖像，不影響植物生長。

2、魚眼鏡頭可自動保持水平狀態(tài)：安裝在手持式萬向平衡接頭上的魚眼攝像鏡頭可自動保持鏡頭處于水平狀態(tài)，無需三角架。

3、快速分層測量：魚眼鏡頭可水平向前或垂直向上伸入到冠層不同高度處，快速進行分層測量，測出群體內光透過率和葉面積指數垂直分布圖。

4、可屏蔽不合理冠層部分：對不同方向的冠層進行區(qū)域性分析時，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠層部分(如缺株、邊行問題等)。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計算該冠層結構參數的冠層孔隙條件。通過手動調節(jié)闖值，可以更精準的測量葉面積指數等參數。

四、葉面積指數測量儀功能特點

1、無損測量葉面積指數、葉片平均傾角以及冠層結構。

2、探頭體積小巧，裝在測杠上可任意角度測量植物冠層結構。

3、攝像頭可自動保持水平。

4、USB接口，測量時連接電腦實時查看圖像，即時選取所需圖像并保存。

5、外接大容量鋰電池，適用于野外工作和長時間測量。

6、測量冠層不同高度，可得到群體內光透過率和葉面積指數垂直分布圖。

7、配有專用分析軟件，有選擇所需圖像區(qū)域的功能（天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū)），可屏蔽不合理的冠層部分，僅對有效圖像區(qū)域進行分析，使測量數據更加精確。

點擊查看葉面積指數測量儀詳細參數>>